3つのコア・コンピタンス（当社の強み）
MetCore Instituteは、最先端半導体製造における「リソグラフィ」「計測（Metrology）」「検査（Inspection）」の領域において、世界標準の知見とグローバルなネットワークを基盤に、お客様の技術課題解決と事業成長を支援します。
35年以上にわたるCD-SEM・計測プロセスの圧倒的な現場知見
1989年のSEMオペレーションから始まり、日立ハイテクグループにおいて35年以上にわたりCD-SEM（測長SEM）のアプリケーション開発、装置のグローバル展開を主導してきました。現場の細部から装置開発、システム構築までを熟知した「実践的な技術力」が当社の核です。
世界最先端のR&D（imec等）および国際学会（SPIE等）との強固なネットワーク
半導体リソグラフィ・計測分野で世界最高峰の国際学会「SPIE」において、13年以上にわたりプログラム委員（Program Committee）を務めています。また、世界最先端のナノエレクトロニクス研究機関である「imec」との共同開発（JDP）のマネジメントや、国際会議の運営にも深く関わった経験を生かし、常に業界最先端の技術動向・ロードマップを捉えたコンサルティングが可能です。
「技術（エンジニアリング）」と「ビジネス（顧客攻略）」を繋ぐ戦略的アプローチ
単なる技術アドバイザーに留まらず、大手半導体・装置メーカーにおけるグローバルアカウントの責任者、マーケティング責任者として、数々の顧客攻略・市場開拓（Sales Expansion）を成功に導いてきました。技術の価値を正しくビジネスに結びつけ、企業の成長戦略へ落とし込むノウハウを体系化しています。
代表略歴（Pedigree）
Founder & CEO MetCore Institute LLC
1989年より電子顕微鏡エンジニアとしてのキャリアをスタート。日立ハイテクにて統括主任技師として、アプリケーション開発チームの統括、プロセス制御システム開発、imecとの共同開発プロジェクトの推進、およびグローバル市場におけるアカウント戦略・営業拡大を牽引。
技術ナレッジの共有システム（GAKS）の構築など、組織的なエンジニア教育にも深い実績を持つ。2026年7月、これまでの知見の活用を行うべく、エンジニアの教育、顧客攻略戦略の立案を行うコンサルティングファーム「MetCore Institute」を設立。
■ 主な国際活動・委員歴
- SPIE (Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography) Program Committee（2013年1月 〜 現在）
- International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics Program Committee（2021年8月 〜 現在）