次世代の半導体・計測エンジニアを育てる実践的教育プログラム

最先端半導体製造において、計測（Metrology）やプロセス制御の重要性はかつてないほど高まっています。しかし、装置の高度化に伴い、真に現場をリードできるエンジニアの育成には膨大な時間と専門知識が必要です。

MetCore Instituteでは、日立ハイテクグループにおける35年以上の現場経験と、組織的な技術ナレッジ共有システム（GAKS）を構築・運用してきたノウハウをベースに、「装置の原理」「プロセスへの理解」「データサイエンス」「伝える力」を網羅した、即戦力エンジニア育成プログラムを提供します。

当社のエンジニア教育 3つの特徴

単なる「操作」ではない、「物理・原理」を徹底する座学

CD-SEMなどの計測装置を本当の意味で使いこなすには、装置を稼働させている「物理」の理解が不可欠です。電子源の特性から検出系の仕組み、分解能の数学的・物理的な定義まで、トラブルの本質を見抜くための強固な基礎を築きます。

前後の工程を見据えた「プロセス俯瞰型」の視点

計測エンジニアであっても、リソグラフィ、エッチング、CMPなどの前後プロセスを理解していなければ、正しいデータ解釈や適切なプロセス制御は不可能です。半導体製造全体の流れを意識したカリキュラムにより、他部門や顧客と対等に議論できるエンジニアを育てます。

実務で成果を出すための「統計学」と「アウトプット技術」

現場のデータを正しく評価するための統計処理の考え方から、社内提案や顧客報告を成功させるための資料作成・壁打ち（プレゼン技術）まで指導します。「技術力はあるが、伝え方がわからない」という課題を解消し、ビジネスに貢献する人材へと引き上げます。

提供可能な研修カリキュラム一覧

企業の課題や受講者のレベル（新人〜中堅・リーダー層）に合わせて、以下のモジュールを柔軟にカスタマイズして提供いたします。

SEM・CD-SEM座学（基礎から応用まで）

装置のポテンシャルを最大限に引き出し、高度なマッチングやスループット改善を行うための核心的な知識を提供します。

  • 基礎： SEMの歴史、SEMの構造、SEMの電子源、二次電子と反射電子
  • 理論： SEMのプローブ径の考え方、分解能の考え方
  • システム： SEMの検出器と検出系
  • CD-SEM専門： CD-SEMの原理と構成、CD-SEM機構説明、CD-SEMのマッチング

半導体プロセス（プロセス全体への理解）

計測・検査の枠を超え、製造プロセス全体を俯瞰して課題解決ができる広い視野を養います。

  • 半導体プロセス概要
  • 各工程の深掘り（リソグラフィ、エッチング、洗浄・乾燥、イオン注入・熱処理、CMP）
  • 検査・測定・試験の役割と実践

統計学（データサイエンスの基礎）

現場のデータに振り回されず、科学的・論理的な判断を下すための統計的アプローチを習得します。

  • 統計処理の考え方1（基礎とデータの見方）
  • 統計処理の考え方2（ばらつきの評価と解析）
  • 統計処理の考え方3（プロセス制御への応用）

プレゼン技術（アウトプット・実践力）

磨いた技術を「成果」として社内外に正しく伝えるための、極めて実践的なトレーニングです。

  • 資料作成技術向上（座学）：論理構成、視覚的伝達のルール
  • 資料作成技術向上（壁打ち）：実際の報告書や提案書をベースにした実践的なブラッシュアップ

導入・カスタマイズのご相談について

「自社の計測エンジニアのスキルを底上げしたい」 「新任のプロセスエンジニアに、計測や統計の基礎を叩き込みたい」

各企業様の保有装置、現在の課題感、受講人数に合わせてカリキュラムを最適化いたします。まずは現状のお悩みをお聞かせください。お気軽にお問い合わせフォームよりご連絡をお待ちしております。